• Apparecchiatura didattica per la tecnologia dei processi elettronici - Attrezzatura scolastica - Formazione - Attrezzatura per la formazione elettrica
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Apparecchiatura didattica per la tecnologia dei processi elettronici - Attrezzatura scolastica - Formazione - Attrezzatura per la formazione elettrica

No.ZE3316
ZE3316 Apparecchiatura didattica per la tecnologia dei processi elettronici - Attrezzatura scolastica - Formazione - Attrezzatura per la formazione elettrica
Potenza in ingresso
Sistema trifase a cinque fili 380V±10% 60Hz
Dimensioni
1300 mm × 650 mm × 1500 mm
Condizioni di lavoro
Temperatura ambiente -10 °C ~ +40 °C Umidità relativa <85% (25 °C)
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Description

ZE3316 Apparecchiatura didattica per la tecnologia dei processi elettronici - Attrezzatura scolastica - Formazione - Attrezzatura per la formazione elettrica
1 Panoramica del prodotto
1-1 Panoramica
1. Questo prodotto integra un sistema di formazione per circuiti digitali e analogici, consentendo di eseguire test relativi a circuiti analogici e digitali.
2. Il prodotto è dotato di alimentatore stabilizzato, corrente alternata a bassa tensione, generatore di frequenza, buzzer, prese multiple, regolatore di tensione, ecc., offrendo numerose risorse per la misurazione, il debug e lo sviluppo di nuovi prodotti elettronici.
1-2 Caratteristiche
1. L'apparecchiatura utilizza una spina speciale, che consente agli studenti di configurare rapidamente il circuito sperimentale per completare i test.
2. Grazie all'utilizzo di una varietà di componenti elettronici e strumenti di assemblaggio, è possibile non solo esercitare le capacità di assemblaggio e debug degli studenti, ma anche sviluppare competenze secondarie in ambito di progettazione curriculare, progettazione per la laurea, competizioni di abilità e altro ancora.

2. Parametri di prestazione
(1) Alimentazione: sistema trifase a cinque fili 380 V ± 10% 60 Hz
(2) Dimensioni: 1300 mm × 650 mm × 1500 mm
(3) Potenza della macchina: <2 kVA
(4) Peso: <250 kg
(5) Condizioni di lavoro: temperatura ambiente -10 °C ~ +40 °C Umidità relativa <85% (25 °C)
3. Elenco degli esperimenti
Esperimento 1 Caratteristiche di commutazione del transistor, limitatore e clamp
Esperimento 2 Test della funzione logica e dei parametri della porta logica integrata TTL
Esperimento 3 Collegamento e pilotaggio di circuiti logici integrati
Esperimento 4 Competizione intellettuale